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原子力显微镜中二阶效应的研究

US14554394 2014-11-26 发明申请

2016-5-26

一种处理系统与以斜坡频率工作在斜坡模式下的原子力显微镜协作，以收集指示样品的物理和化学性质中的至少一个的数据。该系统以高于斜坡频率的频率收集指示探头移动的数据。该数据包括探头信号的二阶部分。至少部分地基于所述二阶部分，所述处理器获得指示样品的物理和化学性质中的至少一个的参数。