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系统和方法用于获取与解剖样品相关联的信息使用光学显微镜

WOUS15061593 2015-11-19 发明申请

2016-5-26

本发明提供的系统和方法用于映射和/或测量介质的力学性能。力学性能可测得的布里渊谱。所述系统和方法可包括三维成像模态是为共配准与布里渊布里渊谱仪的探测光束。所述三维成像模态可以是光学相干断层摄影或沙姆普弗鲁克摄像机成像。