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产业专利数据

用旋进电子衍射在透射电子显微镜中作应变图

US14890560 2014-5-23 发明申请

2016-5-19

用透射电子显微镜(TEM)以预定角度在具有预定尺寸的多个步骤上扫描样品材料。将以预定步长和角度的每个扫描与模板进行比较，其中从材料和扫描的参数生成模板。然后使用局部错误取向映射和/或奈氏张量分析来分析数据，以提供关于局部应变状态的信息。