| 利用单发光粒子检测技术进行显微观察光学显微镜装置、显微观察方法和计算机程序 |
| US15002992 2016-1-21 发明申请 |
| 2016-5-19 |
| 提供了一种能够通过扫描分子计数法检测在厚样品中移动的发光物体或发光颗粒的显微观察技术。 在本发明的技术中，在通过将待观察区域划分为多个区域而获得的每个观察子区域中移动光检测区域的同时，检测来自共焦或多光子显微镜的光学系统的光检测区域的光； 分别检测来自发光粒子的光的信号； 并且在要观察的区域中确定与检测信号相对应的发光粒子的位置。 光检测区域在每个观察子区域中的位置的移动在每个观察子区域中在至少两个方向上连续地或和/或连续地多次地执行。 |
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