| 近场光学显微镜和近场测量方法 |
| JP2014211574 2014-10-16 发明申请 |
| 2016-5-16 |
| 要解决的问题 : 接近测量区之间的区域和近场测量的位置发生偏差， 正确位置的近场和近场测量方法测量的显微镜。溶液 : 接近测量本发明的方法(S10)， 物镜的光轴和接近探头插入在步骤(S12)， 物镜的焦点， 上端中心的光纤和步骤(S14)， 所述的下端的高度光纤用于物镜的聚焦位置和步骤 (S16)， 下端的高度物镜的焦点位置， 对准， 测量在图像的中心纤维microinterferometer确定下端的位置和步骤 (S18)， 和物镜的焦点位置，并计算偏差标记和步骤(S20)， 设置， 在根据附着光纤的上端从下端的中心 所述光纤从中心的偏差量确定。 选择的绘图 : 图。 4 |
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