| 用于显微镜检查的方法和装置 |
| DE102010013223 2010-3-29 发明授权 |
| 2016-5-12 |
| 本发明涉及一种显微镜装置，具有光源(1)，用于产生激发光， 例如荧光， 和具有聚焦光学器件(3)，用于聚焦的激发光到样本体积(4)在集束方向。 该装置还包括扫描器(2)，用于控制所述激发光的焦点的换挡垂直于 所述集束方向， 和探测光学器件(5)，用于再现信号光束在检测方向到检测器(6)具有检测器表面 (7)。 根据本发明， 有源区(10)的检测器表面(7)，其被读取可以限制为该区域 在激发光的焦点区域再现通过检测光学系统(5)。 控制器构造成用于调节有源区(10)的检测器表面(7)和用于同步读出 所述有源区(10)的检测器表面(7)在时间上与集束的激发光。 本发明还涉及一种相应的显微镜的方法。 |
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