| 扫描探针显微镜以及试样观察及其使用方法 |
| WOJP14078804 2014-10-29 发明申请 |
| 2016-5-6 |
| 本发明的目的是大大降低了背景噪声和提高效率的产生 近场扫描探针显微镜中的光。 一种扫描探针显微镜是具备 : 测量探头用于扫描和相对于待检查样品； 激发光照射系统； 一种(近场光来进行激发)发电系统，用于照射区域包括测量探针与激发光的从 激励光照射系统产生的近场光来进行激发的区域中； 和散射光检测系统用于检测散射光的近场光用于测量其之间产生 测量探针和样品的近场光的作用进行激励。 |
微信公众号