| 扫描电子显微镜用导电样品块 |
| US14897514 2014-6-12 发明申请 |
| 2016-5-5 |
| 本发明提供了一种制备用于显微镜检查的样品的方法， 所述方法包括使所述样品与第一可聚合树脂在足以使所述第一可聚合树脂渗透到样品中的条件下接触一段时间的步骤， 从样品表面除去过量的第一可聚合树脂，使含有所述第一可聚合树脂的如此制备的样品与第二可聚合树脂制剂接触，所述第二可聚合树脂制剂包括高浓度的导电颗粒，并使如此制备的样品经受可聚合树脂的固化温度，其中所述第二可聚合树脂制剂的固化温度与第一可聚合树脂的固化温度基本相同。 |
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