力检测用于基于直接尖轨迹观测显微镜
 
WOUS15053453  2015-10-1  发明申请

2016-4-14
 
  与例如本文描述的实施例, 一种探针针尖的扫描探针显微镜(如原子力显微镜(AFM))直接时检测 在轻敲模式来确定随时间的顶端位置, 和尖端的力从这些确定的计算端头的位置。
 
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