| 选择性平面的照明显微镜(spim)的系统和方法 |
| WOUS15053656 2015-10-2 发明申请 |
| 2016-4-7 |
| 在一个实施例中， 选择性的平面照明显微镜系统，用于捕捉发出的光被照射的试样包括试样台具有一 顶表面适于支撑样品座和开口适于提供接入到底部 座， 和选择性的平面照明显微镜光学系统位于阶段， 该光学系统包括激发物镜， 探测物镜， 和顶部敞开的， 中空棱镜，其适于容纳液体， 其中棱镜位于开口内的阶段和目标的光轴对准 所述棱镜，使得轴线过棱镜和顶面附近的位置处相交的 样品台。 |
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