| 一种白光同轴干涉相移显微镜系统和显微成像方法 |
| CN201610008623.2 2016-1-4 发明申请 |
| 2016-4-6 |
| 本发明提供一种白光同轴干涉相移显微镜系统，其包括显微镜装置和相位成像装置，相位成像装置包括光源、第一透镜、透射式纯振幅空间光调制器、第二透镜、第三透镜、反射式纯相位空间光调制器、第四透镜以及相机，透射式纯振幅空间光调制器加载有一个和图像的频谱相匹配的图样用于降低低频信息的光强，以使低频信息和高频信息的光强相当；反射式纯相位空间光调制器的入射角度＜10°；反射式纯相位空间光调制器上加载有相移量不同的多个图样以调制所述低频信息。本发明还提供了基于白光同轴干涉相移显微镜系统的显微成像方法。 |
微信公众号