| 用于确定显微镜的指示的至少一部分内部折射率的样品 |
| DE102011081192 2011-8-18 发明授权 |
| 2016-3-24 |
| 在一种方法，用于确定相关的信息的折射率在至少内部的一部分，样品(3)，以下步骤进行 : a)基准表面(3.2；4)中与先前已知的表面形成的部分的下方设有样品(3)，b)使用光学显微镜，样品的部分(3)用于多个的成像焦平面，与成像从发生侧位于样品的相对基准表面(3.2；4)，c)剖面图像(8)或含样品的3D图像的图像参考表面(8.2)产生从多次捕获眼睛，d)图像之间的偏差的参考表面(8.2)和所述先前已知的表面形成确定，E)的偏差的基础上，该信息涉及折射率在内部的样品(3)的部分是确定的。 |
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