| 利用光学显微镜图片判断石墨烯层数率的方法 |
| CN201510690003.7 2015-10-21 发明申请 |
| 2016-2-3 |
| 本发明提供一种利用光学显微镜图片判断石墨烯层数率的方法，利用对比度值C做出概率分布图，将该对比度值C与理论计算的对比度值C0进行比较，分辨出石墨烯不同层对应的峰位置；将概率分布图进行拟合，拟合得到分别对应不同层数的多个峰，并得到峰面积；利用得到的指定拟合峰面积与各拟合峰面积之和相比的方法，判断石墨烯的层数率。该方法具有操作简单、效率高、成本低、误差小的特点，且可以用于判断不同衬底上不同方法制备的石墨烯的层数率，另外还可以判断其他二维纳米薄膜材料的层数率等优势。 |
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