| 测量显微镜，校正倾斜的方法 |
| JP2014139637 2014-7-7 发明申请 |
| 2016-2-1 |
| 要解决的问题 : 手动轻松样品的倾斜校正。方法 : 测量显微镜100，和旋转台203，XY载物台204，和运算部(310)，显示控制部(320)。旋转台203，其平行于物镜的光轴201和具有旋转轴线，和通过手动操作转动。XY台204，旋转台203和物镜201的光轴方向垂直的预定方向中移动以线性级。算术部分310，样品S计算相对于预定方向倾斜，显示控制部(320)，运算部(310)基于计算出的所述试样S的倾斜，该倾斜有关的信息的样本S，显示在显示装置400。选择的绘图 : 图。1 |
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