| 显微镜系统 |
| JP2014123429 2014-6-16 发明申请 |
| 2016-1-12 |
| 要解决的问题 : 通过观察无法检测DIC细微的划痕或异物提供一种显微镜系统可观察。方法 : 显微镜系统1，通过物镜(23)照射SP生物来源试样中将同轴发射和同轴照明的照明光的部分25，或从物镜23的外侧周边，发射偏振辐射生物来源试样中将SP发出照明光照明部(26)和极化辐射，物镜23，differantial干扰和棱镜244生物来源试样中将入射时通过半反射镜243，SP1反射光的方向从偏振光分量，并且仅发送分析仪246，同轴照明部(25)以及偏振辐射，照明部分(26)和照明控制单元71，设置。选择的绘图 : 图。1 |
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