| 分辨率透射电子显微镜的方法 |
| JP2014121612 2014-6-12 发明申请 |
| 2016-1-7 |
| 要解决的问题 : 透射电显微镜，0。性能的分辨率的TEM装置1纳米或更小，样品通过样品的影响下电子波结构分离时即使未获得，接近原子核柱具有柱分离点的TEM图像提供方法分辨率。方法 : 使用已知的评价试样的间隔中的原子薄膜，通过透射电子显微镜图像评价样品的原子获取附近柱，柱的图像获取的邻居原子，通过施加2的三维拉普拉斯算子，变换图像核柱附近，转换柱分离，从相邻的原子，它确定是否图像，当确定分离，所述透射电显微镜，和具有已知的等效间隔的分辨率的原子特征和测试。选择的绘图 : 图。2 |
微信公众号