| 一种基于一阶贝塞尔光束的STED超分辨显微镜及调节方法 |
| CN201510612186.0 2015-9-23 发明申请 |
| 2015-12-23 |
| 本发明公开了一种基于一阶贝塞尔光束的STED超分辨显微镜及其调节方法。本发明的STED显微镜包括：激发光光源、损耗光光源、激发光扩束准直系统、损耗光扩束准直系统、螺旋形相位板、贝塞尔光束产生系统、损耗光聚焦透镜、合束系统、物镜、压电扫描系统、滤波片、信号收集系统和单光子探测器；本发明的损耗光为一阶贝塞尔光束，其本身具有抗散射和自愈特性，在样品较深的位置可以保持很好的光斑形貌，从而提高样品深层区域的分辨率；相比于调节物镜校正环来实现STED超分辨显微镜深层成像的方法，本发明实验操作上较为简单，无需主动调节；相比于使用自适应光学系统的方法，本发明实验装置上较为简单且廉价。 |
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