通过使用扫描式探针显微镜使用该方法及异物去除方法去除微探头
 
JP2014113076  2014-5-30  发明申请

2015-12-17
 
  目的 : 悬臂设置在所述探针的尖端用于扫描物体的表面,以获得关于表面的形状通过使用扫描探针显微镜上存在的异物物体表面,提供一种通过简单的操作容易地除去的方法。结构 : 至少一个夹持件的端2连接到探针的扫描探针显微镜,异物存在于待定位物体表面的探针上方,探头更靠近容纳异物卡住夹片。选择绘制 : 图。6
 
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