| beobachtungsund分析仪 |
| DE102009041993 2009-9-18 发明申请 |
| 2011-3-31 |
| 本发明是指以beobachtungsund分析仪，其是装备与装置，用于所述的增加表示一个样品(1)和与装置以它们的评价和分析。这种beobachtungsund覆盖分析仪根据本发明-一种lichtmikroskopsiche机构，训练作为所述增加一个样品(1)的表示和光学评价，-所述样品的装置，用于选择所述的分析范围(1); 配备还·一个电子枪(3)，其中一个电子束(4)上的所述样品的一个范围(1)。通过该光显微镜的机构arrangable选择的是，和还·一个伦琴检测器(6)，经训练的作为检测该电子束由所述倒数的效果(4)与所述样品材料显影的X-射线(5)，-ansteuerund评价单元(8)，其中用于所述光显微镜机构调整命令和所述的电子枪(3)产生的和其rntgenstrhalung(5)频谱分析。 |
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