| 试样分析仪 |
| CN200810084888.6 2008-3-28 发明申请 |
| 2008-10-1 |
| 本发明提供一种试样分析仪，包括：测定含试样和试剂的测定试样的测定装置；根据上述测定装置测定含标准试样和上述试剂的测定用标准试样所得第一测定数据绘制校正曲线的校正曲线绘制单元；赋予上述校正曲线绘制单元绘制的上述校正曲线以校正曲线特定信息、用于特定上述校正曲线的校正曲线特定信息附加单元；根据上述校正曲线绘制单元绘制的上述校正曲线对上述测定装置测定上述测定试样所得第二测定数据进行处理、取得分析结果的测定数据处理单元；将上述测定数据处理单元获取的上述分析结果与赋予上述第二测定数据处理所用上述校正曲线的该校正曲线特定信息对应存储的分析结果存储单元。 |
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