| 一种扫描电子显微镜进行超细粉末状样品形貌观察的方法 |
| CN201510304738.1 2015-6-5 发明申请 |
| 2015-10-21 |
| 本发明的目的是提供一种扫描电子显微镜超细粉末状样品形貌观察的分析方法，本发明的方法，包括如下的步骤：1)用吸附物的带静电的光滑面来吸附超细粉末样品；2)用双面导电胶带中的一面黏合薄膜上吸附的粉末；3)将双面导电胶带的另一边粘附在扫描电子显微镜的样品台上；4)对黏合于双面导电胶带上的粉末进行镀金处理；5)使用扫描电子显微镜进行观察。本发明方法能够得到超细粉末样品中粒度较均匀的粉末部分，受静电吸引吸附的粉末都是超细粉末样品中颗粒较细的，且颗粒粒度大小相近的才会被同时吸附，在扫描电子显微镜的观察中可得到粒度均匀的图片。 |
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