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一种用于纵向扫描的显微镜系统
CN201510416232.X 2015-7-15 发明申请
2015-10-21
本发明提供了一种用于纵向扫描的显微镜系统,用于对待扫描物体进行扫描,所述显微镜系统包括显微镜物镜、液晶盒和入射光源,所述液晶盒设置于显微镜物镜和待扫描物体之间,入射光源从待扫描物体向显微镜物镜处照明。本发明的显微镜系统通过调节液晶盒的光学厚度,能够高速度而且高精度地微调显微镜物镜的焦平面的纵向位置,实现对待扫描物体精密快速地纵向扫描。
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