| 受激发射损耗显微镜 |
| WOJP15058289 2015-3-19 发明申请 |
| 2015-10-8 |
| 一种STED显微镜中的装置(1a)上设置有STED光源(11)，用于输出STED(LS1)，激励光源(12)，用于输出激发光(LE1)，一种相位调制型SLM(13)，其中相位图案的展示为形成STED(LS1)成使用相位调制的环形形状，光学系统(15a)照射激发光(le2)和STED(LS2)的相位调制后到观察区域，检测器(16)，用于检测从观察区域产生荧光(pl)，和控制单元(17a)，用于控制该相位图案。控制单元(17A)设定中的相位图案，以便控制STED环的内直径后(LS2)的光相位调制。一种STED显微镜装置，从而实现与可以关于分辨率提高用户使用的便利性和所需要的时间。 |
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