| 扫描探针显微镜 |
| JP2014050004 2014-3-13 发明申请 |
| 2015-10-5 |
| 要解决的问题 : 探针的样品的尖端，样品的尖端可以提供一种扫描探针显微镜观察。方法 : 尖头和样品台，用于放置样品，样品放置在桌面上，样品从上方向，和扩展装置，尖锐的光的照射从光源和侧方向，远端，其尖头用于扫描样品表面和探头，所述探头安装在端部和悬臂，探针针尖的尖端表面用于样品和细匹配的位置控制装置，设置，光源照射光从侧面方向由尖头，当从上方观察，其尖头的尖端prechabmer照射样本，所述探针吸头用于细控制装置，通过样品的尖端并对准扫描探头显微镜。选择的绘图 : 图。1 |
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