样品的荧光显微镜检查方法
 
US14660829  2015-3-17  发明申请

2015-9-24
 
  一种用于样品荧光显微镜检查的方法。 该方法包括用显微镜的激发辐射通过照明光束路径照射样品,并沿着光轴成像到照相机芯片上的图像场,照明光束路径具有用于选择性照射目标区域的可调节光圈; 选择所述样本上的区域作为目标区域; 以及调节用于选择性地照射目标区域的可调节光圈,使得位于选定区域之外的样品的部分不被激发辐射照射。
 
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