| 样品的载片用于(ldi)激光解吸电离质谱法和光学显微镜 |
| WOEP15055761 2015-3-19 发明申请 |
| 2015-9-24 |
| 样品的载片用于(ldi)激光解吸电离质谱和光学显微镜铟锡氧化物涂覆的载片，它们的合成及在成像中使用质谱分析提供了本申请中。这里描述的合成方法可用于制备氧化铟锡玻璃基板上的薄膜所需要的纳米表面结构，用于在无基质的成像代谢物和小分子药物，在不影响所需透明度的光学显微。所述定制滑动测试的潜在底物成像质量光谱法测量范围的不同特性，包括元素组合物，拓扑，光学和电学性，疏水性和对它们进行比较，与市售的滑动。在优选实施例中，所述样品玻片(ito4)具有一铟锡氧化物表面层25-35nm之间的厚度，表面粗糙度为大约1.2nm，1.5-1.9microohrn/平方厘米之间的电阻率，光传输，在351nm，大于60%nm。 |
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