| 一种用于刑事侦查的痕迹比对显微镜 |
| CN201520141163.1 2015-3-12 实用新型 |
| 2015-9-23 |
| 本实用新型涉及一种用于刑事侦查的痕迹比对显微镜，包括：基座；支撑架，底部与基座连接；还包括：两个载物台，分别安装在基座两边，分别用于放置两个待比对物件；两个物镜模块，设于支撑架两端且分别位于两个载物台上方，分别用于捕捉两个待比对物件的光学信号；目镜模块，设于支撑架上，包括两个分别与两个物镜模块连接的目镜。与现有技术相比，本实用新型具有两个载物台、两个物镜模块和两个目镜，因此可以使操作人员同时观察两个待比对的物件。 |
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