| 用于通过使用光分布来提高粒子成像设备中的测量精确度的装置、系统和方法 |
| CN201180032277.7 2011-6-29 发明申请 |
| 2013-3-27 |
| 一种用于提高成像细胞分析技术中的测量精确度的装置、系统和方法。系统可包括：光检测器，其被配置成测量粒子响应于第一光源而发出的光；以及耦合至该光检测器的处理器。处理器可被配置成通过获得光的第一测量来产生第一图像，以及通过对该第一图像进行内插来产生第二图像，其中第二图像具有比第一图像更高的分辨率。处理器可被配置成确定第二图像与预期分布之间的像素的差，以及在该差高于预定阈值的情况下丢弃光的第一测量。 |
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