| 透射电镜 |
| JP2014038089 2014-2-28 发明申请 |
| 2015-9-7 |
| 要解决的问题 : 漏磁场的影响可以降低提供一种透射电显微镜。溶液 : 透射电镜100，用于产生电子束，所述电子束源2，从电子束源的电子束(2)照射透镜系统4和样品，试样S和样品台6上，设置在所述的样品S的上电极和下电极，上电极和下电极从物镜18，用于产生磁场，第一，一种第二物镜18设置在物镜2的后级10和第一，一种第二物镜210，设置于所述透镜的后级系统16和，第一和第二物镜1，8，2物镜10和控制部分22，包括，控制部分22，一种第一物镜210，样品由样品S的电子束的图像处理和传输电子显微镜图像，基于观察到的情况通过控制物镜18，在样品的位置S设置以否定的漏磁场产生磁场处理，被执行。选择的绘图 : 图。1 |
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