产业专利数据
 
对准探头近场显微镜中的无源的方法和装置
 
JP2014030852  2014-2-20  发明申请
2015-8-27
 
  要解决的问题 : 样本探针的表面上形成热点温度提高，在宽范围的样本的类型(棉)可以测量，容易，并且，在短时间来调整探针的位置。溶液 : 无源近场显微镜为10，通过制备样品21，局部蝴蝶斑以及21的表面上形成光斑的温度升高，无源近场显微镜10聚焦光斑，光斑位置探测器17，。选择的绘图 : 图。1
 
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