| 样品分析仪及其校准方法 |
| US12589863 2009-10-28 发明申请 |
| 2010-4-29 |
| 本发明公开了一种样品分析仪，包括 : 第一测量单元，用于测量样品； 第二测量单元，用于测量样品； 以及信息处理单元，用于基于所述第一测量单元的测量结果获取第一分析结果，以及基于所述第二测量单元的测量结果获取第二分析结果，其中，所述信息处理单元被配置为 : 基于第一校正值校正所述第一分析结果，基于第二校正值校正所述第二分析结果，更新所述第一校正值，以及更新所述第二校正值。 本发明还公开了一种样品分析仪的校准方法。 |
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