用于扫描显微的方法及扫描显微镜
 
DE102013021482  2013-12-17  发明申请

2015-6-18
 
  本发明涉及一种用于扫描显微的方法,在该扫描样品,同时与多个[…]的激发光,其中,从试样照射的位置与[…],光源发出的光进行单独的检测,从另一位置,所述照射与另一[…]从光照射在样品的显微图像用于各种样品可组装辐射检测的场所。根据本发明的方法其特征在于 : 所述不同强度的相互彼此独立地调节引导[…][…][…]串联通过中和的样品。本发明还涉及一种扫描显微镜。
 
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