| 用于SPIM显微镜显微镜和方法 |
| US14575584 2014-12-18 发明申请 |
| 2015-6-18 |
| 一种用显微镜绞盘进行SPIM显微镜检查的方法，包括 : (1)用于用基本上平面的光片照射样品的照明装置，和(2)用于用物镜检测样品发射的光的检测装置。 样品沿物镜光轴的方向通过光片移动，并且样品在第一照明角和第二照明角下被照明。 然后，在每个照明角检测多个样本平面，并将其存储为至少第一图像叠层和第二图像叠层。 图像堆栈相对于彼此对齐，并且组合在一个图像堆栈中。 a。将三维图像叠层投影到二维渲染中，对样本特征进行对齐，确定坐标变换，并将用于对齐的坐标变换应用于组合图像叠层。 |
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