| 光谱分析装置使用共聚焦显微镜或多光子显微镜的光学系统，频谱分析方法，和频谱分析的计算机程序 |
| EP13825513 2013-5-16 发明申请 |
| 2015-6-10 |
| 本发明提供一种光学分析技术，采用光学系统共焦显微镜或多光子显微镜光学分析技术，如扫描分子计数法，FCS，fida及PCH的，它使判断是否有预定的条件，在前实现光学系统执行光强度测量。本发明的光学分析技术中的测量光的强度从光检测区，配置在样品溶液和对所述光强度，有判断是否执行了处理光检测区域位于样品溶液中和测量光的强度和从光检测区域可进行，和/或，位置或其区域的光检测区域的相对于样品容器在其光强度测量可以基于信号强度的大小进行移动的过程中，光电探测器输出的位置，所述光检测区域相对于试样容器。 |
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