| 工作stationcomprising样品架用于低温电子显微镜相关的成像检测装置结合光学显微镜和电子显微镜，相关成像检测包括所述工作站，成像检测方法和成像系统通过使用所述工作站 |
| KR1020140100416 2014-8-5 发明授权 |
| 2015-6-10 |
| 本发明涉及光学显微镜(光学显微镜)和电子显微镜用于测量工位涉及的关联(电子显微镜)，光学显微镜标本到网格定位工位(10)，所述通路形成在上样品表面栅冷却液体的氮，冷却号码接收部分(310)和，所述的冷却水接收部分(310)和容置部的隔板(323)的空间内由所述样品arated栅将栅格定位的容置槽(340)和所述栅极容置槽(340)及其后续的外一侧上该容器，通孔(156)与栅极接收部分(150)包括，所述格栅的接收部分(150)步入式冷却器单元(170)，其供给液体氮定子240延伸管(180)的远端头上设置有支座，沉降的所述样品的格栅(380)形成的，所述座椅头(380)所述通孔(156)将开销数据插入所述格栅的接收部分(150)位置的半导体晶片耦接于该轴体样品支架座(14)，将其特征在于光学显微镜和所述夹相连的成像用于检测低温电子显微镜的样品支架座包括工作站和检测成像的连接包括该装置和方法检测成像使用其的涉及和成像系统。 |
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