| 光学显微镜系统用于同时观察空间上不同的感兴趣区域 |
| WOHU13000114 2013-11-28 发明申请 |
| 2015-6-4 |
| 本发明涉及一种光学显微镜系统(10)用于同时测量至少两个空间上不同的区域感兴趣的，其特征在于 : 包括至少两个不同的光学测头(12a，12b，12c)可同时聚焦在感兴趣的空间上不同的任意的区域，每个光学测量头光连接有至少一个扫描头(14)，光学显微镜系统还包括控制系统(32)连接到至少一个扫描头和光学测量头，所述控制系统被配置为提供用于同步控制的操作的至少一个扫描头和至少两个光学测量头。 |
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