透射电子显微镜用相板
 
US14548077  2014-11-19  发明申请

2015-5-21
 
  本发明涉及一种用于透射电子显微镜的相板(1)的清洁方法,其中所述相板在TEM中第一次照射之前被蚀刻,然后被保持在超纯的保持气氛中,直到在TEM中照射为止。
 
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