产业专利数据
 
测量显微镜反射率在无限利用有限切换机构，或斜平面和垂直于光轴的球面以找到反照率测量显微镜
 
JP2013232633  2013-11-10  发明申请
2015-5-18
 
  要解决的问题 : 无限源在显微镜光学系统中使用的销孔，测量时，垂直反射率的样品，与样品表面垂直于其光轴可以精确和容易地识别测量。显微镜。溶液 : 无限显微镜，图像形成透镜与手动或自动状态可以提供准确和机构。选择绘制 : 图。1
 
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