| 激光扫描显微镜装置和激光扫描方法 |
| US14527504 2014-10-29 发明申请 |
| 2015-4-30 |
| 利用单个激光光源实现了对样品的高强度光刺激和低强度的精细荧光观察。 提供了一种激光扫描显微镜设备(1)，包括产生激光的激光光源(11)； 输出功率控制部分(13)，其能够通过以逐步方式改变输出功率来设置激光光源(11)的输出功率； AOTF(15)，其能够以比所述输出功率控制部(13)改变所述激光光源(11)的输出功率的分辨率更细的分辨率，以逐步的方式调整从所述激光光源(11)发射的所述激光的光级；以及AOTF(15)，所述AOTF(15)能够以比所述输出功率控制部(13)改变所述激光光源(11)的输出功率的分辨率更细的分辨率来调整从所述激光光源(11)发射的所述激光的光级； 以及观察装置(17)，其扫描由AOTF(15)调整了光强度的激光，并检测在样品上产生的荧光。 |
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