| 自动校准扫描角棱镜型纳米级精密轴向定位全反射显微镜和可选的变照明深度伪全反射显微镜 |
| US13006739 2011-1-14 发明授权 |
| 2015-4-21 |
| 一种用于改进的VA-TIRFM显微镜的方法、设备和系统。 该方法包括通过精确控制每个激光相对于样品的呈现来自动控制一个或多个激光源的校准，以在临界TIR角的范围内实现入射角的小增量变化。 然后，校准允许对样品进行任何这些校准角度的精确扫描以获得更高且更精确的分辨率，并且允许对扫描进行更好的重建以获得样品的超分辨率重建。 可选地，该系统可以被控制为用于伪TIRFM的激发激光在亚临界角处的入射角。 可选地，可以用相同的系统来完成临界角以上和临界角以下的测量。 |
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