用于电子和稀疏采样和重建扫描探针显微镜成像
 
US14482754  2014-9-10  发明申请

2015-3-12
 
  用于传导电子系统和方法或本文提供了扫描探针显微镜。在一般实施例中,用于传导电子的系统和方法或一种扫描探针显微镜检查的具有欠采样的数据组包括 : 驱动电子束或探针扫描穿过样本和像素位置的访问的子集样品是随机或伪随机地指定,确定实际样品上的像素位置被访问的电子束或探针;和处理由检测器收集的数据从电子束的访问或在实际的像素位置探头回收样品的重构图像。
 
仿站