产业专利数据
 
空间或有限切换无限有限切换机构或斜平面和垂直于光轴的球面的识别的反光率测量显微镜机构或斜面垂直于光学轴的球面和识别的反射率的测量显微镜
 
JP2013169994  2013-8-19  发明申请
2015-2-26
 
  要解决的问题 : 无限源在显微镜光学系统中使用的销孔，测量时，垂直反射率的样品，与样品表面垂直于其光轴可以精确和容易地识别测量。显微镜。溶液 : 无限显微镜，图像形成透镜与手动或自动状态可以提供准确和机构。选择绘制 : 图。1
 
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