| 用于测量样品折射率显微镜系统和方法 |
| US14315221 2014-6-25 发明申请 |
| 2015-1-15 |
| 一种显微镜系统，包括 : 波阵面调制器，调制来自光源的光的波阵面； 物镜，所述物镜用其波阵面已被所述波阵面调制器调制的光照射样本； 球面像差校正器，校正由所述物镜和所述样品之间的介质的折射率与所述样品的折射率之间的差引起的球面像差； 折射率计算器，其针对来自光源的光的每个波长，基于校正的球面像差的量计算物镜和从物镜发射的光的聚光位置之间的介质的平均折射率； 以及控制器，其控制所述波前调制器以校正基于针对每个波长计算的平均折射率计算的色差。 |
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