产业专利数据
 
用于近场光学显微镜的有源探针及其制造方法
 
EP13712362  2013-2-6  发明申请
2014-12-24
 
  本发明涉及一种用于近场光学显微镜的有源探头，其特征在于 : 它包括一种金属或金属化尖端的顶点处(pm)的纳米级体位于，所述体包括聚合物基体，它可以，或含有能主机(MH)，发光，在光照下，光在波长不同于(sh)的照明。这种探针的制造方法。。
 
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