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纳米孔测序装置和方法

US12757789 2010-4-9 发明申请

2010-12-30

本发明涉及用于纳米孔测序的装置和方法。本发明包括具有例如并入CMOS中的电子电路的纳米孔阵列。在一些情况下，纳米孔阵列包括用于隔离电子信号以改进测序的电阻开口。本发明公开了用于控制通过纳米孔的移位的方法。