| 近场光学显微镜及其激光的照射位置的特定方法 |
| JP2013103065 2013-5-15 发明申请 |
| 2014-12-4 |
| 要解决的问题 : 和激光的照射位置到前端位置可准确对齐，提高测量的可靠性可制成和提供近场光学显微镜。方法 : 金属切屑，金属屑和激光束照射部，提供，，通过照射激光束施加到金属芯片，金属屑产生的电场增强的尖端处的光学测量进行中近场光学显微镜，金属屑和通过改变激光照射位置的相对位置调节部和，分别，从金属屑中的相对位置检测部分，用于检测散射光和非弹性，非弹性散射的预定频率范围中的光的光谱的背景波在镜头的每一个相对质量中心的位置计算，基于相对位置的质量中心在每个波，所述尖端的金属芯片以配合位置的金属尖对尖照射位置和位置确定部分，被提供。选择绘制 : 图。1 |
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