微样品加热探头及其制造方法,和使用所述微型样品分析仪加热探头
 
EP08015733  2008-9-5  发明授权

2015-1-21
 
  本发明的目的是提取微几μm的异物,它可导致产品缺陷的装置或类似物,和对异物到质量分析在良好的S/N比而不任何污染。微样品加热探头包括由两个构件样品架的直径不同,支撑部,和端子部件。样品架包括 : 加热机构仅在有限的部分,仅区域非常接近于微样品分析对象的局部加热。因此,即使在受污染物质附着到探针,这样的物质都不加热,从而防止噪音的发生,使分析在非常良好的S/N比。
 
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