样品的分析方法和样品分析仪
 
EP13158749  2006-3-23  发明申请

2013-6-19
 
  一种新型的方法,其样品中分析的样品分析之前,可以测量任何干扰物质。本发明提供了一种样品的分析方法,包括与光照射一样品,从而所述的步骤所述样品上得到一种光学信息从所述试样; 混合该样品与一种试剂,从而得到一种分析样品; 和与光照射所述的分析样品所述样品上,从而得到一种光学信息从所述分析样品和所述样品上,从而完成处理所述的光学信息分析该分析的样品。在该步骤所分析的所述分析的样品,分析条件相称的与所述的分析样品被设定该光学信息的基础上所述样品上。
 
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