| 光学系统用于多信道微流控芯片和多信道荧光的荧光测量样品分析仪 |
| KR1020050010186 2005-2-3 发明申请 |
| 2006-8-8 |
| 目的 : 一种光学系统用于测量多信道荧光和一种装置，用于分析一种多信道荧光样品被提供给通过检测所述荧光的强度降低制造成本，通过使用一束光的光纤和光电二极管，构成 : 一个光学系统用于测量多信道荧光，包括 : 一光源(10)，一个积分器(20)，一个样品夹持器(30)，和一个分束器(25)。所述积分器将所述的光从该光源照射以所述的光具有均匀强度分布。所述样品架包括多个样品的信道以其样本荧光-反应与所述的光从所述积分器被安装。所述分束器之间设置是所述积分器和所述样品夹持器以分离所述照射光在一预定比。kipo2006 |
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