样品分析仪、粒子分布图显示方法及计算机程序产品
 
US12459094  2009-6-25  发明申请

2009-12-31
 
  本发明提供一种样品分析器,包括 : 测量部分,用于通过测量样品获得关于样品中的颗粒的特征参数信息; 颗粒分布图生成器,用于基于由所述测量部分获得的所述特征参数信息,生成表示关于所述特征参数信息的所述样本中的颗粒的分布状态的颗粒分布图; 展示; 以及显示控制器,用于控制所述显示,以便在所述颗粒分布图和所述颗粒分布图中显示说明所述分布状态的说明信息。
 
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